Where accuracy meets throughput
利用海德漢、ETEL、RSF 和 NUMERIK JENA 的全新解決方案， 提高電子和半導體製造的精度和生產率。
多自由度技術為提升產能注入動力
一個可測定六個自由度的編碼器
可傳遞精度技術保障規格精度
MRP 8000 雙讀頭角度編碼器
高階運動控制系統打造全新可能
為半導體與電子產業提供更精確更高性能的ETEL運動平台
可精確測量任何軸的直線與角度編碼器
來自海德漢、NUMERIK JENA、與 RSF的高精度、精巧、量身打造的編碼器
總線操作中的 EnDat 3：輕鬆佈線、大量數據
在數位化未來實現高度系統整合的最佳編碼器介面
採用我們的多自由度技術設計的編碼器，可提供多個自由度的位置反饋。這種額外的反饋顯著提高量測精度，使您能夠偵測和補償其他方向的運動，否則會影響您的系統。採用這項創新技術的編碼器包括我們的PP 6000 Dplus雙座標編碼器、LIP 6000 Dplus光學尺和GAP 1000間隙量測編碼器。
阿貝(Abbé)誤差對工具機精度有負面影響，量測通常很困難，但使用PP 6000 Dplus雙座標編碼器則不會。此編碼器使用單個掃描頭，可在464 mm x 464 mm的區域內同時量測兩個方向，還可根據要求提供更大的區域。通過直接量測刀具中心點，您可以最大限度減少阿貝誤差並提高工具機精度。其雙位置反饋使用EnDat 3介面通過單一電纜傳輸，從而減少佈線和設定工作。使用PP 6000 Dplus最佳化運動系統的動態行為。
LIP 6000 D plus的尺身上刻有沿正負45°對角線刻畫的特殊兩列式光柵搭配可掃描個別光柵的特殊讀頭，就能直接且精確地進行主要方向X與次要方向Y的全行程量測。透過EnDat3，兩個位置值可經由單一線材傳到控制端，這顯著減少配線、簡化安裝 及優化運動系統動態性能
使用我們基於LIP 6000 Dplus的校正工具，隨時檢查和調整您的工具機。校正您的工具機並不是一項日常活動，因此海德漢也提供租用工具這項服務，而無需購買和維護您自己的工具。我們經過認證的校正工具係根據需要檢查系統準確性的便捷方法。
GAP 1081是海德漢第一款間隙編碼器，它可測量特殊鏡片與讀頭間的垂直間隙。因此 ，GAP 1081可應用於簡易垂直定位任務，或與LIP 6000D plus這類直線光學尺平行安裝，來作直線軸向的連續垂直量測。GAP1081反射鏡量測行程可達3米，當二個讀頭配置於同一鏡面時，軸向的俯仰角(pitch)及偏航角(yaw)皆可測得
輕鬆將編碼器精度完整利用於您的應用中
儘管您的編碼器具有經過認證的精度和校正表，但您可能無法在應用中使用其全部精度。造成這種情況的可能原因有很多，特別是當編碼器安裝到剛性不足的部件時。具有可轉移精度的MRP 8081 Dplus可確保指定的精度不會因應用而降低。此技術具有以下特點：
得益於這些功能，MRP 8081 Dplus的系統精度高達±0.2角秒，無論給定的安裝環境、傾斜負載或其他外部因素如何（例如振動、突然的物理負載和溫度波動）。這提升了精度和性能，並在不犧牲精度的前提下提高馬達轉速。
除了高精度角度量測之外，MRP 8081 Dplus的四個掃描頭還可量測軸的徑向導軌誤差。將來，用於分析四個掃描頭的特殊電子設備也將允許您彌補這一點。
海德漢MRP角度編碼器模組+ETEL扭力馬達迸出新火花，不同凡響的平滑運動控制，不受齒槽轉矩與徑向力妨害的高軸承導軌精度。也可提供SRP 5000角度編碼器模組，極扁平、高剛性緊湊型系統高剛性零件，確保在不同負載下一致的精度
電子和半導體製造是一個充滿活力的行業。海德漢通過不斷開發開放式編碼器實現了快速變革。這就催生了ERO 2000增量式角度編碼器，該編碼器專為狹小空間和高動態性能要求而設計，如檢流計光學掃描器中的那樣。ERP 1000也是如此，其具有不同凡響的高精度與解析度。ERP 1080 Dplus是其改版之一，具有四個掃描頭，具有與MRP 8081 Dplus角度編碼器模組相同的堅固性和安裝優勢。
EnDat 3是實現高度系統整合與迎向包含匯流排操作在內之數位化未來的理想編碼器介面。 EnDat 3 節省配線並讓多方面診斷變得唾手可得，因而讓您自動化系統的安全性與可靠度再升級。EnDat3通用型通信介面傳輸多方面資訊，不僅位置回饋，亦包含感測數據、系統監控數據、設備的自動配置數據
RSF的光學尺和角度編碼器採用模組化設計，提供最大的靈活性，可輕鬆整合至您的系統中。這包括所有常見控制器的各種介面和各種物理設計。其他優點包括寬安裝公差和易於安裝。RSF的新型MCR 16角度編碼器代表信號品質的進一步提高。
LIC 3000 系列加入眾所熟悉的絕對式開放式直線光學尺LIC 4000 及 LIC 2000 家族。LIC 3000具有極小的10奈米量測步距，並且往復移動速度可達600m/min。適用於高動態性能與精準位置測量線性軸的LIC 3000直線光學尺，測量長度可達 10 m
大掃描區使LIC3000極度抗污染，局部污染在尺身上對信號品質與測量可靠度僅有極小的影響。得益於其動態性能、長行程、穩健性，LIC 3000開放性直線光學尺更為泛用，將LIC編碼器的優勢應用於更多領域吧。
NUMERIK JENA LIKgo 與LIKselect 編碼器完美適用於 狹小的安裝空間與高精度要求
標準款的 LIKgo特別小巧輕便其讀頭尺寸僅有28 mmx 13mmx 7.5mm且僅重 10 克
編碼器新式雙場掃描原理使光柵週期20 µm的量測步距可達到78.125 nm，極其精確、高信號品質與抗污染
可客製化設計的LIKselect編碼器承襲NUMERIK JENA Kit L系列優點，提供可高度自由搭配的編碼器符合您個別需求
