Virtual show | SEMICONDUCTORS & ELECTRONICS

控制后段装配

对于芯片的后段制程,需要极快的生产和检测速度,同时也需要作用力控制和过程可靠。

HEIDENHAIN GROUP的编码器和ETEL的搬运系统相互配合,可在应用中实现高精度、
高动态性能、严格的作用力控制和过程可靠:

IC分选机引线键合机芯片分选机贴片机晶圆切片机和晶圆探针台

Empower Technology
Higher performance for the semiconductor and electronics industry

HEIDENHAIN GROUP的解决方案兼具高精度、高动态性能、高实用价值和高可靠性,HEIDENHAIN GROUP是您可信赖的合作伙伴。

我们携手并进,共破精度极限。详细了解我们的开创性创新成果,实现N+1制程节点。

SEMICON线上活动:   20251027日至31日和1110日至14

ETEL的高速搬运系统可搬运
超薄元器件,也可搬运大型元器件

ETEL的RTMB+回转分度工作台支持大有效负载和高动态性能运动,可搬运大型元器件,并达到更高性能和更高过程可靠性。而在封装和检测中,TUCANA ST和AQUARIUS ST可轻柔操作芯片和晶圆。

旋转轴运动系统:高动态性能的转塔分选

RSF的DG 14:键合机的Z轴角度编码器

RSF的DG 14增量式角度编码器专用于在狭小空间中测量高动态运动。模块型的DG 14角度编码器内仅设有小型读数头和非整圆圆光栅码盘。扇段长度和栅距可适配应用需求,因此其尺寸和精度均可满足引线键合焊头的设计要求。

超薄直线光栅尺:NUMERIK JENA的LIKgo和LIKselect

NUMERIK JENA LIKgoLIKselect敞开式直线光栅尺是狭小安装空间和高精度应用的理想选择。

标准型的LIKgo光栅尺的突出特点是体积小,重量轻。读数头尺寸仅28 mm x 13 mm x 7.5 mm和重量仅10 g。这款光栅尺采用新开发的20 µm栅距的两场扫描技术,测量步距可达78.125 nm的极高精度,并提供高质量信号和优异的抗污性能。

为满足量身定制要求,LIKselect光栅尺结合NUMERIK JENA的Kit L系列优点,可以灵活配置编码器功能特性,满足个性化的应用需求。

LIC 3000:高动态性能直线轴的海德汉敞开式直线光栅尺

LIC 3000系列光栅尺是继LIC 4000系列和LIC 2000系列敞开式绝对直线光栅尺之后的又一个产品线。LIC 3000测量步距仅10 nm,运动速度可达600 m/min。LIC 3000直线光栅尺可进行直线轴高动态性能和高精度位置测量,测量长度可达10 m。

LIC 3000的大型扫描场可有效提高抗污性能。测量基准的局部污染对信号质量和测量稳定性的影响十分有限。由于LIC 3000系列敞开式直线光栅尺动态性能高,测量长度大和坚固耐用,因此,这款光栅尺应用灵活,在更多的应用中都能充分发挥LIC光栅尺的优势。

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