高生产力需要高动态性能，而纳米级制程需要极致的高精度。
HEIDENHAIN、NUMERIK JENA和RSF的编码器和ETEL的运控系统不仅满足这些要求，而且还提供高实用价值和高可靠性。
高性能解决方案应用广泛，包括SMT贴片机、PCB打孔机、飞针测试机、电池制造、高级贴片机和自动光学检测系统
HEIDENHAIN GROUP的解决方案兼具高精度、高动态性能、高实用价值和高可靠性，HEIDENHAIN GROUP是您可信赖的合作伙伴。
我们携手并进，共破精度极限。详细了解我们的开创性创新成果，实现N+1制程节点。SEMICON线上活动： 2025年10月27日至31日和11月10日至14日
振镜扫描仪专用的超小型编码器： 空间有限而动态性能卓尔不群
RSF的直线光栅尺和角度编码器采用模块化设计，应用灵活，可轻松集成在应用系统中。这些光栅尺和角度编码器支持大量不同接口，可轻松连接常用的控制系统和支持不同的物理设计。其它获益还包括宽松的安装公差和易于安装。RSF的全新MCR 16角度编码器可达更高信号质量。
NUMERIK JENA LIKgo和LIKselect敞开式直线光栅尺是狭小安装空间和高精度应用的理想选择。
标准型的LIKgo光栅尺的突出特点是体积小，重量轻。读数头尺寸仅28 mm x 13 mm x 7.5 mm和重量仅10 g。这款光栅尺采用新开发的20 µm栅距的两场扫描技术，测量步距可达78.125 nm的极高精度，并提供高质量信号和优异的抗污性能。
为满足量身定制要求，LIKselect光栅尺结合NUMERIK JENA的Kit L系列优点，可以灵活配置编码器功能特性，满足个性化的应用需求。
LIC 3000系列光栅尺是继LIC 4000系列和LIC 2000系列敞开式绝对直线光栅尺之后的又一个产品线。LIC 3000测量步距仅10 nm，运动速度可达600 m/min。LIC 3000直线光栅尺可进行直线轴高动态性能和高精度位置测量，测量长度可达10 m。
LIC 3000的大型扫描场可有效提高抗污性能。测量基准的局部污染对信号质量和测量稳定性的影响十分有限。由于LIC 3000系列敞开式直线光栅尺动态性能高，测量长度大和坚固耐用，因此，这款光栅尺应用灵活，在更多的应用中都能充分发挥LIC光栅尺的优势。
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